STS作为史上最小、最低价的光谱仪，提供了低噪声，高信噪比，以及~1.5nm
(FWHM)的光学分辨率的全光谱分析, 具有出色的性能。它针对OEM和大量的需要
监视一个或多个波长并且客户寻求高重现性的应用。在生命科学，医疗诊断，固态
照明和环境分析等这些行业中，STS是具有吸引力的对基于滤光片的光学传感系统
和其它微型光谱仪的替代品。
- 小尺寸的全光谱分析
CMOS基本单元小于50mm(2”)平方，仅重68g(2.4 oz.)
- 适于OEM设备
小巧，低成本的单元适于大量产品定量重现性的场合
- 卓越的性能
可以达到或超过与更大，更贵的光谱仪联系在一起的光学分辨率，稳定性，灵
- 敏度，以及其它性能指标
- 多种接口选项
通过USB或RS-232接口及无线数据通讯通过蓝牙或Wi-Fi适配器与光谱仪连接
| 物理参数 |
|
| 尺寸 |
40 mm x 42 mm x 24 mm |
| 重量 |
68 g (2.4 oz.), 包括光纤 |
| 操作温度 |
0-50 °C, 10 °C 变化/小时段 |
| 储藏温度 |
-20 to +75 °C |
| 探测器 |
|
| 探测器类型 |
ELIS-1024, 1024 像素线阵CMOS |
| 探测器范围 |
200-1100 nm (未镀膜) |
| 像素尺寸 |
1024, 7.8 x 125 μm |
| 光学平台 |
|
| 设计交叉 |
Czerny Turner, 焦距 28 mm |
| 入射光阑 |
形状光阑; 10 μm, 25 μm, 100 μm及200 μm狭缝 |
| 光栅 |
600 l/mm |
| 光纤光学接口 |
~2 cm x 400 μm固定光纤 (不能分离) |
| 量子效率 |
60% (在 675 nm) |
| 光学 |
|
| 波长范围 |
UV (200-600 nm), VIS (350-800 nm), NIR (650-1100 nm) |
| |
|
| 光学分辨率 |
FWHM 1.0 nm (10 μm狭缝), |
| |
1.5 nm (25 μm狭缝), |
| |
6.0 nm (100 μm狭缝), |
| |
12.0 nm (200 μm狭缝) |
| 信噪比 |
>1500:1 (最大信号) |
| A/D 分辨率 |
14位 |
| 暗噪声 |
<3 counts RMS |
| 动态范围 |
5 x 109(系统, 10 s 最大积分), 4600:1 单次采集 |
| 积分时间 |
10 μs-10 s |
| 杂散光 |
<0.25%在 450 nm; <0.1% 在750 nm |
| 校正后线性度 |
<+/-0.5% ，从 15-95%全比例 |
| 最大暗电流 |
~150 counts/秒在 60 °C |
| 电学 |
|
| 供电选项 |
USB或GPIO端口 |
| 数据传输速度 |
USB全速 |
| 接口 |
Micro-USB |
| 输入/输出 |
GPIO |
| 触发模式 |
3种模式 |
| 闪控功能 |
单次/连续 |
| 门延迟特性 |
是 | |
